Beni Culturali

SEM microscopio elettronico a scansione

Il SEM, ovvero il microscopio elettronico a scansione, consta di uno strumento attraverso il quale è possibile condurre un’indagine di tipo non distruttivo ( requisito, quello della non distruttività, essenziale nello studio dei Beni Culturali ) grazie all’interazione tra un fascio di elettroni e il campione, oggetto d’esame.

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Fluorescenza X (EDXRF)

L’EDXRF è un metodo ben conosciuto in archeometria poiché è non distruttivo, multielementale e relativamente economico. La tecnica è basata sull’irraggiamento di una opera pittorica con raggi X e sulla misurazione dell’energia dei raggi X secondari emessi dal campione stesso. L’energia dei raggi X secondari (detti anche caratteristici) è legata infatti agli elementi chimici presenti nel campione analizzato e la loro intensità è proporzionale alla quantità dell’elemento sotto esame.

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Spettroscopia Raman

La spettroscopia Raman, è una tecnica non invasiva e non distruttiva che si basa sulla interazione radiazione materia. In particolare la radiazione emessa da un fascio laser interagisce con i moti rotovibrazionali delle molecole con la conseguente riemissione di luce a lunghezze d'onda diverse da quella incidente.

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Riflettografia infrarossa

La Riflettografia infrarossa è un metodo largamente utilizzato nell'indagine scientifica delle opere d'arte. Si basa sul principio della diversa trasparenza dei materiali pittorici alla radiazione infrarossa rispetto a quella visibile, per cui è possibile visualizzare elementi pittorici sottostanti lo strato visibile, difficilmente apprezzabili con altri metodi.

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